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用万用表检测IC芯片的几种简易方法

来源:admin      发布时间:2018-01-08     


一、离线检测
  
测出IC芯片各引脚对地之间的正,反电阻值。以此与好的IC芯片进行比较,从而找到故障点。

二、在线检测
  (一)直流电阻的检测法

      同离线检测。但要注意:

      1.要断开待测电路板上的电源;

2. 万能表内部电压不得大于6V;

   3. 测量时,要注意外围的影响。如与IC芯片相连的电位器等。

  (二)直流工作电压的测量法

      测得IC芯片各脚直流电压与正常值相比即可。但也要注意:

     1.万能表要有足够大的内阻,数字表为首选;

     2.各电位器旋到中间位置;

   3.表笔或探头要采取防滑措施,自行车气门芯套在笔头上,并应长出笔尖约5mm

     4.当测量值与正常值不相符时,应根据该引脚电压,对IC芯片正常值有无影响以及其它引脚电压的相应变化进行分析;

   5.IC芯片引脚电压会受外围元器件的影响。当外围有漏电,短路,开路或变质等;

    6.IC芯片部分引脚异常时,则从偏离大的入手。先查外围元器件,若无故障,则IC芯片损坏;

    7.对工作时有动态信号的电路板,有无信号IC芯片引脚电压是同的。但若变化不正常则IC芯片可能已坏;

    8.对多种工作方式的设备,在不同工作方式时IC脚的电压是不同的。

 (三)交流工作电压测试法

    用带有dB档的万能表,对IC进行交流电压近似值的测量。若没有dB档,则可在正表笔串入一只0.1-0.5μF隔离直流电容。该方法适于工作频率比较低的IC。但要注意这些信号将受固有频率,波形不同而不同,所以所测数据为近似值,仅供参考。

 (四)总电流测量法

    通过测IC电源的总电流,来判别IC的好坏。由于IC内部大多数为直流耦合,IC损坏时(PN结击穿或开路)会引起后级饱和与截止,,使总电流发生变化。所以测总电流可判断IC的好坏。在线测得回路电阻上的电压,即可算出电流值来。

以上检测方法,各有利弊.。在实际应用中最好将这些方法结合来运用。

 

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